我司參加了2012年03月20-22日在上海浦東新國際展覽中心(Shanghai New InternationalExpo Centre)開展的SEMICON CHINA 2012 展會（展位號:E3563 )。展會盛況空前, 參觀者絡(luò)繹不絕。　　
　　
　　
此次，我司展出了德國PVA公司生產(chǎn)制造的世界領(lǐng)先的雙探頭，雙工位超聲波掃描顯微鏡( SAM300 TWIN), 此臺機器一經(jīng)展出，便吸引了大量用戶，訪問者與現(xiàn)場德國資深專家展開熱烈探討,? 交流世界最新檢測技術(shù)。雙探頭，雙工位的超高工作效率，讓用戶耳目一新, 紛紛表示了濃厚的興趣和購買欲望。　

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同時PVA 首次展出Auto Wafer 300 - 全自動MEMS 晶圓超聲檢測系統(tǒng) （4 探頭），可進行4-12‘?英寸?晶圓鍵合的全自動超聲檢測：自動對焦和掃描系統(tǒng)，自動缺陷分析，并包括NG 樣品分類，包括自動風(fēng)干和烘干裝置，?完成一片6?英寸 晶圓檢測只需2-5 分鐘 （4 探頭），驚艷全場。德國PVA 超聲技術(shù)的領(lǐng)先實現(xiàn)讓參觀者耳目一新 ！?