我司參加了2010年03月16-18日在上海浦東新國際展覽中心(ShanghaiNewInternationalExpoCentre)開展的SEMICONCHINA2010展會（展位號:W2159)。展會盛況空前,參觀者絡繹不絕。　　
　　
　　
　　此次，我司展出了德國PVA公司生產制造的世界領先的雙探頭超聲波掃描顯微鏡(SAM300TWIN),此臺機器一經展出，便吸引了大量用戶，訪問者與現場德國資深專家展開熱烈探討,交流世界最新檢測技術。雙探頭的超高工作效率，讓用戶耳目一新,紛紛表示了濃厚的興趣和購買欲望?！　?br style="color: rgb(0, 0, 205); font-family: Tahoma, Arial, 宋體, sans-serif; white-space: normal; background-color: rgb(255, 255, 255); font-size: 16px;"/>　　
　　
　　我司同時還展出了日本Union公司生產制造的DH2/IMH系列高精度測量顯微鏡，DZ2/DZ3系列視頻顯微鏡，SONY公司生產的TECHNOLOOK系列三維視頻顯微鏡等一批用于半導體行業的產品檢測的精密儀器。