科視達® 攜手德國 PVA TePla & 德國Sentronics Metrology 參展2016 上海SEMICON科視達®將攜手德國PVA TePla & 德國Sentronics Metrology參加 2016 年3 月15-17 日在“上海浦東新國際展覽中心”開展的SEMICON CHINA 2016 展會（展位號: N3 館- 3501展位 )。此次，將展出德國PVA TePla 公司生產制造的具有世界領先HiSA技術的SAM 302 HD2 - 超高清、前后雙探頭超聲波掃描顯微鏡和超高速機型：SAM 300 UltraTec, 最快掃描速度2000mm/s.德國PVA TePla 和科視達技術專家將在展會現(xiàn)場進行操作演示和樣品測試。同時將首次展出德國Sentronics Metrology（原ISIS ）的晶圓多層膜厚/平整度/弓形/翹曲/表面粗糙度測量設備 SemDex 301-21，歡迎攜帶晶圓樣品現(xiàn)場預約測試，以便更好了解設備的多功能與卓越性能。誠摯歡迎各位蒞臨展會現(xiàn)場觀摩和技術交流！相信一定會令您不虛此行！
2016-03-09
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